加州圣克拉拉快闪记忆体高峰会 爱德万测试推出最新固态硬盘测试机并发表论文
2017-08-10 23:43:59 | 来源:雅墨 | 投稿:小北 | 编辑:dations

原标题:加州圣克拉拉快闪记忆体高峰会 爱德万测试推出最新固态硬盘测试机并发表论文

【我酷网记者罗蔚舟/新竹报道】

美国加州圣克拉拉会议中心(Convention Center)8/8-8/10日举行今年度快闪记忆体高峰会(Flash Memory Summit),半导体测试设备领导供应商,并系2017年峰会的翡翠级赞助商的爱德万测试(TSE:6857),特在高峰会上展示旗下MPT3000系列固态硬盘(SSD)测试解决方案的最新测试机,并发表两篇技术论文。

爱德万测试在第606至608号摊位,展示旗下MPT3000平台新推出的两款最新解决方案,为原本便已支援的SSD协议与规格再添生力军。最新的MPT3000HES采用与MPT3000全系列相同的硬件、软件、热性能与介面,但是配置更精巧,专为“完全复制”(copy exactly)工程与较小规模的应用而设计。

此外,新的Smart Power解决方案是针对内建自我测试电路(BIST)需求推出的超低成本选项,可应用于生产测试,其低速串列介面可与协议测试达到最佳协同作用。

爱德万测试也在摊位上通过数位荧幕和笔记型电脑展示经济实惠的T5851测试机,该机台是专为通用快闪储存(UFS)装置和PCle BGA记忆体而设计。这项系统同样采用MPT3000产品家族已通过验证之测试架构。

至于发表论文,爱德万测试技术专家在本届峰会上探讨测试议题的201-C议程中,发表两篇技术论文,爱德万测试的Vishal Devadiya以“为SSD品质认证测试做好准备”(Preparing SSDs for Qualification Testing)为题发表演说;而Ben Rogel Favila则会和与会贵宾讨论“专为SSD测试最佳化所设计的可扩展平台”(A Scalable Platform for Optimal SSD Test)。

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